Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english

Sommersemester 2020
Stand: 06.04.21 08:34:31
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Lehrkraftplan 1.HS: 13.04  2.HS: 01.06  Zw.Sem.: 20.07  Beginn WS: 17.10
Holm Kirmse

LV Nr. Modul Nr. Modulname LV Titel SP* Studien­gang FS Typ SWS
4020200122 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020200122 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020200121 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200121 P25.2.c Spezialmodul Festkörperphysik Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200121 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020200122 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020200122 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1

Zeit Montag Dienstag Mittwoch Donnerstag Freitag
07
08
09
10
11
4020200122 UE
40483
[P24.2.b,P35.4]
Holm Kirmse
Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte
NEW 14 2'05
14tgl.
1.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
2.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
1.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
2.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
4020200122 VL
40483
[P24.2.b,P35.4]
Holm Kirmse
Anna Mogilatenko
Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte
NEW 14 2'05
1.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
2.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
1.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
2.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
12
13
14
15
4020200121 PR
40540
[P24.2.e,P25.2.c,P35.4]
Holm Kirmse
Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen
NEW 15 0'516
1.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
2.FS Phy | M.Sc.-H | PO2016
1.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
2.FS OptSci | M.Sc.-H | PO2015
16
17
18
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