WS 2012 SS 2012
WS 2011
WS 2010 SS 2011
Department of Physics
open chemistry
KVL / Klausuren / MAP 1st HS: 17.10  2nd HS: 12.12  sem.br.: 20.02  begin SS: 10.04

4020115080 Practical Course in Electron Microscopy - Basics and Application  VVZ 

PR
Mon 15-17
weekly NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse, Eva Oehlschlegel, Ines Häusler
Wed 15-17
weekly NEW 15 0'516 (0)

Digital- & Präsenz-basierter Kurs

Aims
Begleitend zu dem Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - werden in dem Praktikum die im Vorlesungskurs besprochenen Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für die konventionelle TEM-Analyse und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für die spektroskopische TEM-Analyse). Dadurch wird den Studierenden eine Möglichkeit gegeben, sowohl praktische Erfahrungen auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln als auch theoretische Kenntnisse der TEM-Analyseverfahren in die Praxis umzusetzen.
Requirements
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie.
Assigned modules
P23.2.1 P23.2
Amount, credit points; Exam / major course assessment
4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Contact
Dr. Holm Kirmse NEW15 2'404
Literature
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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