Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english


fehlende Termine ab 01.09.2016
Wintersemester 2016
Stand: 02.10.17 17:43:10



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KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 17.10  2.HS: 05.12  Zw.Sem.: 20.02  Beginn SS: 17.04

40486 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie  VVZ 

VL
Mi 15-17
wöch. NEW 14 2'05 (0) Anna Mogilatenko, Holm Kirmse
Lern- und Qualifikationsziele
Die modernen Methoden der Elektronenmikroskopie, speziell der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), erlauben die Aufklärung von Struktur/Eigenschaftsbeziehungen von modernen Materialien und Werkstoffen auf atomarer Skala. Die Notwendigkeit einer Analyse von Struktur und chemischer Zusammensetzung im nm-Bereich ist vor allem durch die weitere Reduzierung der Dimensionen der Materialsysteme (z.B. optische und elektronische Bauelemente, Nanomaterialsysteme) wichtig geworden.
Das Ziel der Veranstaltung ist es, die Studierenden mit den Techniken der modernen Elektronenmikroskopie vertraut zu machen. Vor allem werden im Kurs die vielfältigen Möglichkeiten der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Rasterelektronenmikroskopie (REM) behandelt. Schwerpunkte bilden sowohl die wichtigsten Elektronenbeugungstechniken als auch verschiedene abbildende Verfahren (Beugungskontrast Abbildung, Hochauflösende TEM, High Angle Annular Dark-Field (HAADF) Abbildung, energiegefilterte TEM (EFTEM), Elektronenholographie, Elektronentomographie) und die spektroskopischen Techniken (Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDXS)).
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Röntgenbeugungstheorie, Grundkenntnisse der Quantenmechanik
Zugeordnete Module
P24.2.e P35.4
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
2 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
Sonstiges
Die Veranstaltung wird durch das Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“ ergänzt (40544).
Je nach den Wünschen der Studierenden kann die Lehrveranstaltung sowohl in englischer als auch in deutscher Sprache angeboten werden.
Ansprechpartner
Dr. Anna Mogilatenko, NEW15 3'306
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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