KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 15.10  2.HS: 10.12  Zw.Sem.: 18.02  Beginn SS: 08.04

40486 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie  VVZ 

VL
Mi 15-17
wöch. NEW 14 2'05 (0) Walid Hetaba
Lern- und Qualifikationsziele
Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt.
Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
Gliederung / Themen / Inhalte
Einführung
Elektronenoptik
Wechselwirkung Elektronen und Materie
Rasterlektronenmikroskopie
Transmissionselektronenmikroskopie
Spektroskopie
Simulationsmethoden
Anwendungen
Zugeordnete Module
P24.2.e P35.4
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
2 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
Mündliche Prüfung möglich.
Sonstiges
Die Veranstaltung wird durch das Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“ ergänzt (40540).
Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache angeboten.
Ansprechpartner
Dr. Walid Hetaba, FHI-Berlin, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin, Tel.: 030/8413-4412, hetaba@physik.hu-berlin.de
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
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