4020225185 Einf. i.d. Elektronenmikroskopie
Digital- & Präsenz-basierter Kurs
- Unterrichtssprache
- EN
- Lern- und Qualifikationsziele
- Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Dabei sollen folgende zentrale Fragen behandelt werden:
1.) Wieso wird Elektronenmikroskopie betrieben?
2.) Wie funktioniert ein modernes Elektronenmikroskop?
3.) Welche Arten der Elektron-Materie-Wechselwirkung gibt es und wie werden diese beschrieben?
4.) Welche Informationen können mit Hilfe von Elektronenmikroskopie gewonnen werden?
5.) Wie kann eine Elektronenstrahl als Superkontinuum-Lichtquelle eingesetzt werden?
Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und Charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt. Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
- Voraussetzungen
- Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
- Gliederung / Themen / Inhalte
- -Einführung
-Elektronenoptik
-Aufbau und Komponenten von Transmissionselektronenmikroskopen
-Wechselwirkung Elektronen und Materie
-Bildgebung und Beugung in Elektronenmikroskopen
-Spektroskopie in Elektronenmikroskopen
-Nanooptik mittles schneller Elektronen
- Zugeordnete Module
-
P24.2.e
P35.4
- Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
- 2 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
Mündliche Prüfung möglich.
- Sonstiges
- Die Veranstaltung wird durch das Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“ ergänzt (40540).
Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache angeboten.
- Ansprechpartner
- Dr. Franz Schmidt, Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Zum Großen Windkanal 2, 12489 Berlin, Tel: +49 30 8413 4413, schmidt@fhi-berlin.mpg.de
- Literatur
-
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
- Moodle link:
- http://moodle.hu-berlin.de/course/view.php?id=116172