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SS 2012 WS 2012
Department of Physics
open chemistry
KVL / Klausuren / MAP 1st HS: 08.04  2nd HS: 27.05  sem.br.: 15.07  begin WS: 13.10

4020130076 Practical Course in Electron Microscopy - Basics and Application  VVZ 

PR
Mon 15-19
weekly NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse, Ines Häusler, Eva Oehlschlegel

Digital- & Präsenz-basierter Kurs

Aims
Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen). Zu Beginn des Kurses werden ausgewählte Präparationstechniken demonstriert. Dadurch wird den Studierenden die Möglichkeit gegeben, praktische Erfahrungen auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln und die Kenntnisse zu den TEM-Analyseverfahren praktisch umzusetzen.
Requirements
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
Assigned modules
P23.2.2 P23.2
Amount, credit points; Exam / major course assessment
4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Contact
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
Literature
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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