KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 08.04  2.HS: 27.05  Zw.Sem.: 15.07  Beginn WS: 14.10

4020190132 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen      VVZ  

PR
Mo 15-19
 wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse

Präsenzkurs

Unterrichtssprache
DE
Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen).
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
Zugeordnete Module
P24.2.e P25.2.c P35.4
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
4 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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