Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english

Sommersemester 2019
Stand: 06.04.21 08:34:31
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Lehrkraftplan 1.HS: 08.04  2.HS: 27.05  Zw.Sem.: 15.07  Beginn WS: 14.10
Holm Kirmse

LV Nr. Modul Nr. Modulname LV Titel SP* Studien­gang FS Typ SWS
4020190134 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
VL 2
4020190134 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
UE 2
4020190132 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
PR 4
4020190132 P25.2.c Spezialmodul Festkörperphysik Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
PR 4
4020190132 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
PR 4
4020190134 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
VL 2
4020190134 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 MPh M O.Sc. 2.FS 4.FS
2.FS 4.FS
UE 2

Zeit Montag Dienstag Mittwoch Donnerstag Freitag
07
08
09
10
11
4020190134 UE
40483
[P24.2.b,P35.4]
Holm Kirmse
Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte
NEW 14 2'05
14tgl.
2.FS MPh
4.FS MPh
2.FS M O.Sc.
4.FS M O.Sc.
4020190134 VL
40483
[P24.2.b,P35.4]
Holm Kirmse
Anna Mogilatenko
Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte
NEW 14 2'05
2.FS MPh
4.FS MPh
2.FS M O.Sc.
4.FS M O.Sc.
12
13
14
15
4020190132 PR
40540
[P24.2.e,P25.2.c,P35.4]
Holm Kirmse
Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen
NEW 15 0'516
2.FS MPh
4.FS MPh
2.FS M O.Sc.
4.FS M O.Sc.
16
17
18
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