Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english


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Sommersemester 2021
Stand: 16.06.21 12:16:09



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Lehrkraftplan 1.HS: 12.04  2.HS: 31.05  Zw.Sem.: 19.07  Beginn WS: 12.04
Holm Kirmse

LV Nr. Modul Nr. Modulname LV Titel SP* Studien­gang FS Typ SWS
4020210094 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020210094 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020210189 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020210189 P25.2.c Spezialmodul Festkörperphysik Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4
4020210094 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020210094 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020210189 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen 5 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS
1.FS 2.FS
PR 4

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