KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 15.04  2.HS: 03.06  Zw.Sem.: 22.07  Beginn WS: 13.10

4020240191 Einf. i.d. Elektronenmikroskopie      VVZ  

VL
Di 11-13
 wöch. NEW 15 3'101 (24) Hannah Catherine Nerl, Franz Schmidt
UE wöch. Holm Kirmse
UE
Mo 17-19
 wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse

Präsenzkurs

Unterrichtssprache
EN
Lern- und Qualifikationsziele
Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Dabei sollen folgende zentrale Fragen behandelt werden:

1.) Wieso wird Elektronenmikroskopie betrieben?
2.) Wie funktioniert ein modernes Elektronenmikroskop?
3.) Welche Arten der Elektron-Materie-Wechselwirkung gibt es und wie werden diese beschrieben?
4.) Welche Informationen können mit Hilfe von Elektronenmikroskopie gewonnen werden?
5.) Wie kann eine Elektronenstrahl als Superkontinuum-Lichtquelle eingesetzt werden?

Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und Charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt. Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
Gliederung / Themen / Inhalte
-Einführung
-Elektronenoptik
-Aufbau und Komponenten von Transmissionselektronenmikroskopen
-Wechselwirkung Elektronen und Materie
-Bildgebung und Beugung in Elektronenmikroskopen
-Spektroskopie in Elektronenmikroskopen
-Nanooptik mittles schneller Elektronen
Zugeordnete Module
P24.2.e P35.4.b P35.4.c
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
4 SWS, 6 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
Mündliche Prüfung möglich.
Sonstiges
VL-Start am 15.04.
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
Moodle link:
http://moodle.hu-berlin.de/course/view.php?id=123433
Anfragen/Probleme executed on vlvz2 © IRZ Physik, Version 2019.1.1 vom 24.09.2019 Fullscreen