Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english


Sommersemester 2024
Stand: 15.11.24 17:46:24



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Lehrkraftplan 1.HS: 15.04  2.HS: 03.06  Zw.Sem.: 22.07  Beginn WS: 13.10
Holm Kirmse

LV Nr. Modul Nr. Modulname LV Titel SP* Studien­gang FS Typ SWS
4020240181 P8a Fortgeschrittenenpraktikum I Fortgeschrittenenpraktikum I / Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene 7 Phy | B.Sc.-Mono | PO2018 4.FS 5.FS
PR 3
4020240182 P8b Fortgeschrittenenpraktikum II Fortgeschrittenenpraktikum II 6 Phy | B.Sc.-Mono | PO2018 Phy | M.Sc.-H | PO2016 IMP | B.Sc.-Mono | PO2019 4.FS 5.FS 6.FS
1.FS 2.FS
7.FS
PR 3
4020240182 P22.f Fortgeschrittenenpraktikum II Fortgeschrittenenpraktikum II 6 Phy | B.Sc.-Mono | PO2018 Phy | M.Sc.-H | PO2016 IMP | B.Sc.-Mono | PO2019 4.FS 5.FS 6.FS
1.FS 2.FS
7.FS
PR 3
4020240094 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020240094 P24.2.b Grundlagen der Kristallographie und Kristalldefekte Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P24.2.e Einführung in die Elektronenmikroskopie Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240184 M2 Physikalischer Schwerpunkt (Praxis): Fortgeschrittenpraktikum Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene KM 5 Phy | M.Ed.(BS)-2F | LA-O | PO2018 Phy | M.Ed.(GYM)-1F | LA-O | PO2018 Phy | M.Ed.(GYM)-2F | LA-O | PO2018 Phy | M.Ed.(ISS)-1F | LA-O | PO2018 Phy | M.Ed.(ISS)-2F | LA-O | PO2018 2.FS
2.FS
2.FS
2.FS
2.FS
PR 3
4020240182 IMP FWB Fachlicher Wahlpflichtbereich Fortgeschrittenenpraktikum II 6 Phy | B.Sc.-Mono | PO2018 Phy | M.Sc.-H | PO2016 IMP | B.Sc.-Mono | PO2019 4.FS 5.FS 6.FS
1.FS 2.FS
7.FS
PR 3
4020240094 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
VL 2
4020240094 P35.4 Spezialisierungsfach Short-Wavelength Optics Grundlagen d. Kristallographie u. Kristalldefekte 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P35.4.b Short-Wavelength Optics Specialization I Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P35.4.b Short-Wavelength Optics Specialization I Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P35.4.c Short-Wavelength Optics Specialization II Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1
4020240191 P35.4.c Short-Wavelength Optics Specialization II Einf. i.d. Elektronenmikroskopie 6 Phy | M.Sc.-H | PO2016 OptSci | M.Sc.-H | PO2015 1.FS 2.FS 3.FS
1.FS 2.FS
UE 1

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