4020125047 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen
Digital- & Präsenz-basierter Kurs
- Unterrichtssprache
- DE
- Lern- und Qualifikationsziele
- Begleitend zu dem Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - werden in dem Praktikum die im Vorlesungskurs besprochenen Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für die konventionelle TEM-Analyse und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für die spektroskopische TEM-Analyse). Dadurch wird den Studierenden eine Möglichkeit gegeben, sowohl praktische Erfahrungen auf dem Gebiet der TEM-Probenpräparation zu sammeln als auch theoretische Kenntnisse der TEM-Analyseverfahren in die Praxis umzusetzen.
- Voraussetzungen
- Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einf.i.d. Elektronenmikroskopie.
- Zugeordnete Module
-
P23.2.1
P23.2
- Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
- 4 SWS, 0 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
- Ansprechpartner
- Dr. Holm Kirmse NEW15 2'404
- Literatur
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D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9