KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 14.10  2.HS: 09.12  Zw.Sem.: 17.02  Beginn SS: 12.04

4020195069 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen      VVZ  

PR
Mo 13-15
 wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse
PR
Mo 15-17
 wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse

Präsenzkurs

Unterrichtssprache
DE
Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung 4020190133 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Nach der notwendigen Justage der Elektronenoptik werden unter andrem die Elektronenbeugung und die Amplituden- und Phasenkontrastabbildung erlernt. Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie spektroskopische Verfahren werden demonstriert.
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
Zugeordnete Module
P25.2.c P35.4
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
2 SWS, 3 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Siehe Vorlesung Einführung in die Elektronenmikroskopie
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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