4020205184 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen
Digital- & Präsenz-basierter Kurs
- Unterrichtssprache
- DE
- Lern- und Qualifikationsziele
- Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen).
- Voraussetzungen
- Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
- Zugeordnete Module
-
P24.2.e
P25.2.c
P35.4
- Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
- 4 SWS, 5 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
- Sonstiges
- je nach Vorgabe: Präsenz-PR oder digitale Übungen
- Ansprechpartner
- Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
- Literatur
-
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9