Humboldt-Universität zu Berlin Math.- Nat. Fakultät Institut für Physik in english

4020235156 Einf. i.d. Elektronenmikroskopie       

Präsenzkurs

Unterrichtssprache

EN

Lern- und Qualifikationsziele

Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Dabei sollen folgende zentrale Fragen behandelt werden:

1.) Wieso wird Elektronenmikroskopie betrieben?
2.) Wie funktioniert ein modernes Elektronenmikroskop?
3.) Welche Arten der Elektron-Materie-Wechselwirkung gibt es und wie werden diese beschrieben?
4.) Welche Informationen können mit Hilfe von Elektronenmikroskopie gewonnen werden?
5.) Wie kann eine Elektronenstrahl als Superkontinuum-Lichtquelle eingesetzt werden?

Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und Charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt. Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.

Voraussetzungen

Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik

Gliederung / Themen / Inhalte

-Einführung
-Elektronenoptik
-Aufbau und Komponenten von Transmissionselektronenmikroskopen
-Wechselwirkung Elektronen und Materie
-Bildgebung und Beugung in Elektronenmikroskopen
-Spektroskopie in Elektronenmikroskopen
-Nanooptik mittles schneller Elektronen

Zugeordnete Module

P24.2.e P35.4.b P35.4.c

Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis

4 SWS, 6 SP/ECTS (Arbeitsanteil im Modul für diese Lehrveranstaltung, nicht verbindlich)
Teilnahme am Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“
Mündliche Prüfung möglich.

Sonstiges

Die Veranstaltung wird durch das Kurspraktikum „Elektronenmikroskopie – Grundlagen und Anwendungen“ ergänzt (40540).
Die Lehrveranstaltung wird in englischer Sprache angeboten.
UE in NEW 15 0'503

Literatur

D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7

Moodle link:

http://moodle.hu-berlin.de/course/view.php?id=123433