KVL / Klausuren / MAP 1.HS: 13.04  2.HS: 01.06  Zw.Sem.: 20.07  Beginn WS: 17.10

4020200121 Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen      VVZ  

PR
(4SWS)
Mo 15-19
 wöch. NEW 15 0'516 (0) Holm Kirmse

Präsenzkurs

Unterrichtssprache
DE
Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen).
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
Zugeordnete Module
P24.2.e P25.2.c P35.4
Umfang, Studienpunkte; Modulabschlussprüfung / Leistungsnachweis
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
Literatur
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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